植物冠層分析系統，也被(bei)稱為(wei)植(zhi)物(wu)冠層(ceng)分析(xi)儀，是(shi)用于研究植(zhi)物(wu)冠層(ceng)結構及其與光能利(li)用關系(xi)的專業設(she)備。以下是(shi)對植(zhi)物(wu)冠層(ceng)分析(xi)系(xi)統用途及特點的詳細介紹：

　　一、植物冠層分析系統的用途

　　研(yan)究(jiu)光合特性(xing)與冠層(ceng)結構：通(tong)過測量植(zhi)物冠層(ceng)中光線的(de)攔(lan)截，研(yan)究(jiu)光合特性(xing)在冠層(ceng)的(de)變化規律，揭示植(zhi)物固碳能力(li)和估算植(zhi)物生產力(li)。

　　指導冠層光(guang)(guang)能(neng)(neng)資(zi)源(yuan)調查：研究(jiu)作物的生(sheng)長(chang)發育、產量品質與光(guang)(guang)能(neng)(neng)利用(yong)間的關(guan)系，為冠層光(guang)(guang)能(neng)(neng)資(zi)源(yuan)的調查提供(gong)指導。

　　監測與分(fen)析植物(wu)群(qun)體：廣泛應用于作(zuo)物(wu)、植物(wu)群(qun)體冠層受光狀(zhuang)況(kuang)的(de)測量分(fen)析，以及農林業科研工作(zuo)中。同時，也適用于野外植物(wu)群(qun)體動態監測的(de)研究與教學。

　　二、植物冠層分析系統的特點

　　無損測量：該系統可無損測量葉(xie)面(mian)積(ji)指數、葉(xie)片(pian)平均傾(qing)角以(yi)及冠層結構，避免了取樣(yang)對(dui)植物(wu)體造成的(de)破壞。

　　多功能(neng)探頭：探頭體積(ji)小(xiao)巧，裝(zhuang)在測杠(gang)上可任(ren)意角度測量植物(wu)冠層結構(gou)，攝像頭可自動保持水平。

　　實(shi)(shi)時(shi)圖像(xiang)查看(kan)：測(ce)量時(shi)連(lian)接電腦可實(shi)(shi)時(shi)查看(kan)圖像(xiang)，即時(shi)選取所需圖像(xiang)并(bing)保存，提(ti)高了工(gong)作效(xiao)率(lv)。

　　野(ye)外(wai)工作(zuo)能力：外(wai)接(jie)大容量(liang)鋰電池(chi)，適用于(yu)野(ye)外(wai)工作(zuo)和長時間測量(liang)，滿足了不同環(huan)境下(xia)的使用需求(qiu)。

　　**分(fen)析：配有(you)專用分(fen)析軟件(jian)，可(ke)選擇所需(xu)圖像區(qu)(qu)域(yu)的(de)功能(neng)（天頂(ding)角可(ke)分(fen)10區(qu)(qu)，方位角可(ke)分(fen)10區(qu)(qu)），可(ke)屏蔽不合理的(de)冠層部(bu)分(fen)，僅對有(you)效圖像區(qu)(qu)域(yu)進行分(fen)析，使測量數據更加**。

　　便(bian)捷性(xing)：一(yi)體(ti)(ti)化設計(ji)，儀器菜單操作(zuo)簡單，體(ti)(ti)積小，攜(xie)帶方便(bian)，便(bian)于實時(shi)進(jin)行野外測量工作(zuo)。

　　總(zong)結來說，植物冠層分析(xi)系統是一種功能(neng)強大、操作(zuo)簡便的(de)(de)設備，能(neng)夠(gou)全(quan)面、準確地分析(xi)植物冠層的(de)(de)光合特(te)性(xing)、結構(gou)及(ji)其與光能(neng)利用(yong)的(de)(de)關系，為農林業科(ke)研和教學工作(zuo)提供有力(li)支持。同時，其無損測量(liang)、多(duo)功能(neng)探頭、實時圖像查看、野外(wai)工作(zuo)能(neng)力(li)、**分析(xi)和便捷性(xing)等特(te)點，使其在各種環(huan)境下都(dou)能(neng)發揮出優(you)異(yi)的(de)(de)性(xing)能(neng)。